Strumenti AFM

Microscopio a Forza Atomica - Molecular Imaging PicoSPM

Applicazioni

Il microscopio a forza atomica permette un’accurata analisi su scala nanometrica della morfologia superficiale di sistemi chimici in fase solida, organici e inorganici, esposti all'aria o presenti in soluzione. La scansione superficiale avviene utilizzando una punta con raggio di curvatura atomica posta all’estremità di un’asta (cantilever). La punta interagisce con la superficie, flettendo il cantilever. Al variare della topografia o di altre proprietà della superficie, si registra una variazione dell’interazione con la punta, consentendo quindi di ricostruire la topografia superficiale. Questa tecnica è in grado di fornire informazioni su proprietà meccaniche, elettriche e magnetiche delle superfici. Lo strumento è inoltre dotato di un sistema antivibrante che consente di eliminare interferenze esterne quali rumori e vibrazione, aumentando la qualità del segnale. Rispetto all’analisi SEM l’AFM permette di ottenere un dato numerico, e non solo apparente, anche sull’asse Z, permettendo una caratterizzazione più profonda del campione, ad esempio ricavandone la rugosità superficiale.

Caratteristiche dello strumento

• Scansione superficiale in modalità “contact”
• Cantilever triangolare non conduttivo in Si3N4 (Veeco, NP-S10)
• Costanti di forza elastica: 0.58 N/m, 0.32 N/m, 0.12 N/m, 0.06 N/m.
• Risoluzione immagine 512 px x 512 px
• Range di scansione XY: 40 x 20 µm²
• Range Z: 7 µm con una risoluzione di 0.1 nm
• Camera di isolamento dalle vibrazioni acustiche (PicoIC)
• Piano antivibrante di supporto